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实验室能力
Laboratory Capabilities
半导体器件用于多种环境、多种设备中，并使用上很多年，透过施加应力，可增强、加快发现潜在的故障成因。
常见的加速因子包含温度、湿度、电压和电流。
以下是我们能进行测试能力的列表：
Item | Machine | Range |
HTRB | BTR-T600高温反偏试验系统 | Max temp:220℃ 100℃±0.5℃ Current:0-4A |
THS | 可程式恒温恒湿试验箱 | 60-98%RH/±3%RH 45℃-100℃/±1℃ |
PCT | HTC-350高压加速老化试验箱 | 0-0.2Mpa 0-200℃/±0.5℃ |
HTSL | 高温烤箱 | Max:300℃ 150℃±0.5℃ |
IFSM | PDF8000 测试机 | Max：300A |
SD | 微电脑无铅焊锡炉Pb FREE | Max:400℃ |
TC | CTS100-2T 温度冲击试验箱 | -70℃~+200℃ -55℃±1℃ 150℃±2℃ load-bearing：20Kg |